Onto Innovation

To Innovation Inc. Beschäftigt sich mit der Entwicklung, Herstellung und Unterstützung von Messtechnik- und Prüfwerkzeugen für die Halbleiterindustrie. Zu den Produkten des Unternehmens gehören automatisierte Metrologiesysteme, integrierte Metrologiesysteme, Inspektion/Charakterisierung von Siliziumwafern, Inspektion von Makrodefekten, automatisierte Defektklassifizierung und Musteranalyse, Ertragsanalyse, Schichtmetrologie und andere. Seine Produkte werden hauptsächlich von Herstellern von Silizium-Wafern, Halbleiterbauern für integrierte Schaltungen und fortschrittlichen Verpackungsherstellern verwendet, die auf dem Halbleitermarkt tätig sind. Seine Produkte werden auch für die Prozesssteuerung in einer Reihe anderer Märkte für die Herstellung von Spezialgeräten verwendet, darunter Leuchtdioden, Oberflächenlaser mit vertikaler Kavität, mikroelektromechanische Systeme, CMOS-Bildsensoren, Halbleiterbauelemente aus Silizium und Verbundhaltern, analoge Geräte, HF-Filter, Datenspeicherung und bestimmte industrielle und wissenschaftliche Anwendungen.